Запис Детальніше

Корреляция значений фрактальных характеристик структуры материала по электронно-микроскопическим фотографиям поверхности образцов со значениями их физико-механических характеристик

Vernadsky National Library of Ukraine

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Корреляция значений фрактальных характеристик структуры материала по электронно-микроскопическим фотографиям поверхности образцов со значениями их физико-механических характеристик
 
Creator Красикова, И.Е.
Красиков, И.В.
Картузов, В.В.
 
Description На основе методов мультифрактального формализма построен алгоритм определения фрактальных характеристик двумерных изображений структур материалов. Приведен интерфейс пользователя компьютерной программы для определения упомянутых характеристик. Проведена обработка изображений структуры материалов; полученные фрактальные характеристики структуры различных материалов демонстрируют наличие корреляции с их физическими свойствами.
На основі методів мультифрактального формалізму побудовано алгоритм визначення фрактальних характеристик двовимірних зображень структур матеріалів. Наведено інтерфейс користувача комп’ютерної програми для визначення цих характеристик. Проведено обробку зображень структури матеріалів; отримані фрактальні характеристики структури різних матеріалів демонструють наявність кореляції з їх фізичними властивостями.
On the basis of multifractal formalism methods an algorithm determining the fractal characteristics of two-dimensional images of materials structures is built. An user interface of a computer program for determining these characteristics was described. Images of structure of material s were processed; obtained fractal structure characteristics of various materials show a correlation with their physical properties.
 
Date 2017-11-09T13:43:45Z
2017-11-09T13:43:45Z
2016
 
Type Article
 
Identifier Корреляция значений фрактальных характеристик структуры материала по электронно-микроскопическим фотографиям поверхности образцов со значениями их физико-механических характеристик / И.Е. Красикова, И.В. Красиков, В.В. Картузов // Электронная микроскопия и прочность материалов: Сб. научн . тр. — К.: ІПМ НАН України, 2016. — Вип. 22. — С. 3-9. — Бібліогр.: 18 назв. — рос.
XXXX-0048
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/125899
517.2:593.43:669.017
 
Language ru
 
Relation Электронная микроскопия и прочность материалов
 
Publisher Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України