Корреляция значений фрактальных характеристик структуры материала по электронно-микроскопическим фотографиям поверхности образцов со значениями их физико-механических характеристик
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів ІнформаціяПоле | Співвідношення | |
Title |
Корреляция значений фрактальных характеристик структуры материала по электронно-микроскопическим фотографиям поверхности образцов со значениями их физико-механических характеристик
|
|
Creator |
Красикова, И.Е.
Красиков, И.В. Картузов, В.В. |
|
Description |
На основе методов мультифрактального формализма построен алгоритм определения фрактальных характеристик двумерных изображений структур материалов. Приведен интерфейс пользователя компьютерной программы для определения упомянутых характеристик. Проведена обработка изображений структуры материалов; полученные фрактальные характеристики структуры различных материалов демонстрируют наличие корреляции с их физическими свойствами.
На основі методів мультифрактального формалізму побудовано алгоритм визначення фрактальних характеристик двовимірних зображень структур матеріалів. Наведено інтерфейс користувача комп’ютерної програми для визначення цих характеристик. Проведено обробку зображень структури матеріалів; отримані фрактальні характеристики структури різних матеріалів демонструють наявність кореляції з їх фізичними властивостями. On the basis of multifractal formalism methods an algorithm determining the fractal characteristics of two-dimensional images of materials structures is built. An user interface of a computer program for determining these characteristics was described. Images of structure of material s were processed; obtained fractal structure characteristics of various materials show a correlation with their physical properties. |
|
Date |
2017-11-09T13:43:45Z
2017-11-09T13:43:45Z 2016 |
|
Type |
Article
|
|
Identifier |
Корреляция значений фрактальных характеристик структуры материала по электронно-микроскопическим фотографиям поверхности образцов со значениями их физико-механических характеристик / И.Е. Красикова, И.В. Красиков, В.В. Картузов // Электронная микроскопия и прочность материалов: Сб. научн . тр. — К.: ІПМ НАН України, 2016. — Вип. 22. — С. 3-9. — Бібліогр.: 18 назв. — рос.
XXXX-0048 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/125899 517.2:593.43:669.017 |
|
Language |
ru
|
|
Relation |
Электронная микроскопия и прочность материалов
|
|
Publisher |
Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України
|
|