Точность дифрактограмм, полученных на рентгеновском дифрактометре по методу Добровольского-Шведова в ячейке с алмазными наковальнями
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Точность дифрактограмм, полученных на рентгеновском дифрактометре по методу Добровольского-Шведова в ячейке с алмазными наковальнями
|
|
| Creator |
Новиков, Н.В.
Кривошея, Ю.Н. Шведов, Л.К. |
|
| Subject |
Письма в редакцию
|
|
| Description |
Проведен анализ точности дифрактограмм, полученных на рентгеновском дифрактометре типа ДРОН-3 по методу Добровольского-Шведова в ячейке с алмазными наковальнями. В качестве образцов были использованы общепринятые эталонные материалы – поликристаллический кремний и NaCl, а долговременную стабильность проверяли на стальном образце.
Проведено аналіз точності дифрактограм, отриманих на рентгенівському дифрактометрі типу ДРОН-3 за методом Добровольського-Шведова в комірці з алмазними ковадлами. Як зразки було використано загальноприйняті еталонні матеріали – полікристалічний кремній і NaCl, а довготривалу стабільність перевіряли на сталевому зразку. There was analyzed of the accuracy of the diffraction patterns obtained on the X-ray diffractometer type as DRON-3 by Dobrowolski-Shvedov’s method at a diamond anvil cell. There were used the common reference materials polycrystalline silicon and NaCl as the samples and for the long-term stability was used a steel sample. |
|
| Date |
2017-11-12T13:28:18Z
2017-11-12T13:28:18Z 2013 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Точность дифрактограмм, полученных на рентгеновском дифрактометре по методу Добровольского-Шведова в ячейке с алмазными наковальнями / Н.В. Новиков, Ю.Н. Кривошея, Л.К. Шведов // Сверхтвердые материалы. — 2013. — № 3. — С. 83-87. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.
0203-3119 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/126048 558.21 |
|
| Language |
ru
|
|
| Relation |
Сверхтвердые материалы
|
|
| Publisher |
Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
|
|