Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона
|
|
| Creator |
Еременко, В.В.
Коваленко, С.И. Солнышкин, Д.Д. |
|
| Subject |
Кpаткие сообщения
|
|
| Description |
С помощью электронографической методики впервые определена размерная зависимость среднеквадратичной амплитуды атомов ¹/² в свободных кластерах криптона. Средний размер кластеров N сформированных в сверхзвуковых струях криптона, изменялся от 1×10³ до 2×10⁴ атомов/кластер. Установлено, что при уменьшении размера кластеров ¹/² увеличивается. Сопоставление наблюдавшейся зависимости с расчетной, учитывающей долевой вклад поверхностных атомов, показало, что для кластеров с N≥4×10³ атомов/кластер увеличение ¹/² при уменьшении N обусловлено только ростом относительного числа поверхностных атомов. Корреляция между расчетом и экспериментом исчезает, когда N≤4×10³ атомов/ кластер. В этом случае экспериментальные значения заметно превышают расчетные, указывая тем самым на то, что в малых агрегациях помимо поверхности действуют также и другие факторы, способствующие росту ¹/².
The size dependence of the rms amplitude ¹/² of the atoms in free clusters of krypton is determined for the first time, by an electron diffraction technique. The mean size N of the clusters formed in supersonic jets of krypton varied from 1×10³ to 2×10⁴ atoms/cluster. It is found that ¹/² increases with decreasing cluster size. A comparison of the dependence observed in experiment with that calculated with allowance for the fractional contribution of surface atoms shows that for clusters with N≥4×10³ atoms/cluster the increase of ¹/² with decreasing N̄ is due solely to the growth of the relative number of surface atoms. The correlation between the calculation and experiment vanishes when N≤4×10³ atoms/cluster. In that case the experimental values are considerably higher than the calculated value, a circumstance which indicates that in small aggregations there are other factors besides the surface which contribute to the growth of ¹/². За допомогою електронографічної методики вперше визначено розмірну залежність середньоквадратичної амплітуди атомів ¹/² у вільних кластерах криптону. Середній розмір кластерів N , сформованих в надзвукових струменях криптону, змінювався від 1×10³ до 2×10⁴ атомів/кластер. Встановлено, що при зменшенні розміру кластерів ¹/² збільшується. Порівняння залежності, яка спостерігалась, з розрахунковою, що ураховує частковий внесок поверхневих атомів, показало, що для кластерів з N≥4×10³ атомів/кластер збільшення ¹/² при зменшенні N обумовлене лише зростанням відносної кількості поверхневих атомів. Кореляція між розрахунком і експериментом зникає, коли N≤4×10³ атомів/кластер. В цьому випадку експериментальні значення помітно перевищують розрахункові, вказуючи тим саме на те, що в малих агрегаціях окрім поверхні діють також і інші фактори, які сприяють зростанню ¹/². |
|
| Date |
2018-01-14T09:50:38Z
2018-01-14T09:50:38Z 2003 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона / В.В. Еременко, С.И. Коваленко, Д.Д. Солнышкин // Физика низких температур. — 2003. — Т. 29, № 4. — С. 469-472. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.
0132-6414 PACS: 61.46+w, 81.10.Aj http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/128835 |
|
| Language |
ru
|
|
| Relation |
Физика низких температур
|
|
| Publisher |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
|
|