Статистична теоретична модель динамічної Бреґґової дифракції в двошаровій кристалічній системі з аморфним поверхневим шаром
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Статистична теоретична модель динамічної Бреґґової дифракції в двошаровій кристалічній системі з аморфним поверхневим шаром
|
|
| Creator |
Дмітрієв, С.В.
Лізунова, С.В. Толмачов, М.Г. Шелудченко, Б.В. Скакунова, О.С. Молодкін, В.Б. Лізунов, В.В. Голентус, І.Е. Карпов, А.Г. Войток, О.Г. Почекуєв, В.П. Репецький, С.П. Вишивана, І.Г. Скапа, Л.М. Барабаш, О.В. Веліховський, Г.О. |
|
| Subject |
Взаимодействия излучения и частиц с конденсированным веществом
|
|
| Description |
З метою створення статистичної динамічної теорії розсіяння випромінення у багатошарових системах з різними за недосконалостями структури та складом кристалічними й аморфними шарами в якості найбільш загального та головного елементу такої теорії побудовано узагальнену теоретичну модель когерентного розсіяння в двошаровій кристалічній системі з аморфним поверхневим шаром і статистично розподіленими дефектами Кулонового типу в кожному шарі. Одержано вирази для когерентної складової відбивної здатности вказаної системи з використанням двох методів: методу підсумовування амплітуд і методу крайових умов, що уможливило встановити й описати механізм формування інтенсивности за рахунок ефектів багаторазовости розсіяння. Проведено аналіз одержаних результатів та їх адаптацію до деяких практично важливих випадків.
С целью создания статистической динамической теории рассеяния излучения в многослойных системах с различными по несовершенствам структуры и составу кристаллическими и аморфными слоями в качестве наиболее общего и главного элемента такой теории построена обобщённая теоретическая модель когерентного рассеяния в двухслойной кристаллической системе с аморфным поверхностным слоем и статистически распределёнными дефектами кулоновского типа в каждом слое. Получены выражения для когерентной составляющей отражательной способности указанной системы с использованием двух методов: метода суммирования амплитуд и метода граничных условий, что позволило выявить и описать механизм формирования интенсивности за счёт эффектов многократности рассеяния. For the goal of the creating of statistical dynamical theory of x-ray scattering in multilayer systems of crystalline and amorphous layers with differences in both the structure imperfections and the composition, as a main element of such a theory, the generalized theoretical model of coherent scattering in two-layer crystalline system with amorphous subsurface layer and statistically distributed Coulomb-type defects in each layer is developed. The expressions for coherent component of mentioned-system reflectivity are obtained using two methods: the method of amplitudes’ summation and the method of boundary conditions. That allows revealing and describing the mechanism of intensity formation due to effects of multiple scattering. |
|
| Date |
2018-02-13T20:22:38Z
2018-02-13T20:22:38Z 2017 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Статистична теоретична модель динамічної Бреґґової дифракції в двошаровій кристалічній системі з аморфним поверхневим шаром / С.В. Дмітрієв, С.В. Лізунова, М.Г. Толмачов, Б.В. Шелудченко, О.С. Скакунова, В.Б. Молодкін, В.В. Лізунов, І.Е. Голентус, А.Г. Карпов, О.Г. Войток, В.П. Почекуєв, С.П. Репецький, І. Г. Вишивана, Л.М. Скапа, О.В. Барабаш, Г.О. Веліховський // Металлофизика и новейшие технологии. — 2017. — Т. 39, № 12. — С. 1669-1691. — Бібліогр.: 9 назв. — укр.
1024-1809 DOI: doi.org/10.15407/mfint.39.12.1669 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/130472 |
|
| Language |
uk
|
|
| Relation |
Металлофизика и новейшие технологии
|
|
| Publisher |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
|
|