X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector
|
|
| Creator |
Mikhailov, I.F.
Baturin, A.A. Fomina, L.P. |
|
| Subject |
Technology
|
|
| Date |
2018-06-12T18:36:18Z
2018-06-12T18:36:18Z 2010 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector / I.F. Mikhailov, A.A. Baturin, L.P. Fomina // Functional Materials. — 2010. — Т. 17, № 1. — С. 127-130. — Бібліогр.: 2 назв. — англ.
1027-5495 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/134203 |
|
| Language |
en
|
|
| Relation |
Functional Materials
|
|
| Publisher |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
|
|