Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects
|
|
| Creator |
Natsik, V.D.
Semerenko, Yu.A. |
|
| Description |
A theory has been advanced providing an adequate description of thermal-activated relaxation resonances of various physical origins in defect-containing materials. The algorithm has been proposed for processing the temperature spectra of absorption and suscep -tibility defect to determine the relaxation process activation parameters.
Предложена теория, позволяющая адекватно описывать низкотемпературные термически активируемые релаксационные резонансы различной физической природы в материалах с дефектами. Описан алгоритм определения активационных параметров соответствующего процесса, основанный на анализе температурных спектров поглощения и дефекта восприимчивости. Запропоновано тєорію, що дозволяє адекватно описувати релаксаційні резонанси різної фізичної природи у матеріалах з дефектами. Описано метод визначення активаційних параметрів відповідного процесу, що базується на аналізі температурних спектрів поглинання та сприйнятливості. |
|
| Date |
2018-06-19T15:38:35Z
2018-06-19T15:38:35Z 2004 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects / V.D. Natsik, Yu.A. Semerenko // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 2. — С. 327-333. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.
1027-5495 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/138820 |
|
| Language |
en
|
|
| Relation |
Functional Materials
|
|
| Publisher |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
|
|