Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films
|
|
| Creator |
Severynov, V.L.
Shaikevich, I.A. Shybiko, Y.A. |
|
| Description |
Using Kretschmann’s method, important parameters defining the propagation of surface waves (namely, the restored polarization azimuth ψ and phase difference Δ between p- and s-components of the electromagnetic wave) versus the light incidence angle θ for thin Ag and Au films have been investigated. It has been show that at wavelength λ = 620 nm, the ellipsometric sensor on Au film is more sensitive to molecular pollutions than sensor on Ag film.
Используя метод Кречмана, исследованы угловые зависимости поляризационных параметров (азимут ψ восстановленной линейной поляризации и сдвиг фаз Δ между р- и s-компонентами поляризации электромагнитной волны) для тонких пленок Ад и Au. Показано, что на длине волны λ = 620 нм эллипсометрический сенсор, изготовленный на пленке золота, является более чувствительным к молекулярным загрязнениям, чем на пленке серебра. З застосуванням метода Кречмана досліджено кутові залежності поляризаційних параметрів (азимут ψ відновленої лінійної поляризації та зсув Δ фаз між р- та s-компонентами електромагнітної хвилі) для тонких плівок Ад та Au. З цих даних видно, що на довжині хвилі λ = 620 нм еліпсометричний сенсор, виготовлений на плівці золота, має вищу чутливість до молекулярних забруднень, ніж сенсор на плівці срібла. |
|
| Date |
2018-06-21T09:21:24Z
2018-06-21T09:21:24Z 2005 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films / V.L. Severynov, I.A. Shaikevich, Y.A. Shybiko // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 1. — С. 131-132. — Бібліогр.: 4 назв. — англ.
1027-5495 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/139715 |
|
| Language |
en
|
|
| Relation |
Functional Materials
|
|
| Publisher |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
|
|