Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів ІнформаціяПоле | Співвідношення | |
Title |
Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ
|
|
Creator |
Ленков, С.В.
Фишер, З.А. Зубарев, В.В. |
|
Subject |
Качество и надежность аппаратуры
|
|
Description |
Проанализированы процесс и модели отказов ИЭТ из-за механических напряжений и диффузионных процессов.
The process and the models of EEA (electronic engineering articles) failures because of stress and diffusion processes have been analysed. |
|
Date |
2018-07-14T15:42:44Z
2018-07-14T15:42:44Z 1998 |
|
Type |
Article
|
|
Identifier |
Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ / С.В. Ленков, З.А. Фишер, В.В. Зубарев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 1. — С. 12-14. — Бібліогр.: 13 назв. — рос.
2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/140696 |
|
Language |
ru
|
|
Relation |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
|
|
Publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
|
|