Обоснование электрофизических характеристик полупроводящих экранов силовых кабелей высокого напряжения со сшитой изоляцией
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів ІнформаціяПоле | Співвідношення | |
Title |
Обоснование электрофизических характеристик полупроводящих экранов силовых кабелей высокого напряжения со сшитой изоляцией
|
|
Creator |
Беспрозванных, А.В.
Набока, Б.Г. Москвитин, Е.С. |
|
Subject |
Техніка сильних електричних та магнітних полів
|
|
Description |
В силовых кабелях среднего и высокого напряжений применяют полупроводящие экраны по жиле и изоляции. Выполнен анализ влияния диэлектрической проницаемости и удельного электрического сопротивления полупроводящих композиций на напряженность электрического поля, тангенс угла диэлектрических потерь и пропускную способность силового кабеля напряжением 110 кВ.
В силових кабелях середньої та високої напруги застосовують напівпровідні екрани по жилі та ізоляції. Виконано аналіз впливу діелектричної проникності та питомого об’ємного опору напівпровідних композицій на напруженість електричного поля, тангенс кута діелектричних втрат та пропускну спроможність силового кабелю на напругу 110 кВ. In power cables of average and high voltage, semiconducting screens for a conductor and insulation are utilized. Influence of dielectric permeability and specific resistance of semiconducting compositions on electric field intensity, dielectric dissipation, and transmitting capacity of a 110-kV power cable is analyzed. |
|
Date |
2018-10-30T17:48:20Z
2018-10-30T17:48:20Z 2010 |
|
Type |
Article
|
|
Identifier |
Обоснование электрофизических характеристик полупроводящих экранов силовых кабелей высокого напряжения со сшитой изоляцией / А.В. Беспрозванных, Б.Г. Набока, Е.С. Москвитин // Електротехніка і електромеханіка. — 2010. — № 3. — С. 44-47. — Бібліогр.: 54 назв. — рос.
2074-272X http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/143339 621.319.4 |
|
Language |
ru
|
|
Relation |
Електротехніка і електромеханіка
|
|
Publisher |
Інститут технічних проблем магнетизму НАН України
|
|