Контроль напівпровідникових пристроїв пам’яті за допомогою циклічних кодів
Репозитарій Вінницького Національного Технічного Університету
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Контроль напівпровідникових пристроїв пам’яті за допомогою циклічних кодів
|
|
| Creator |
Семеренко, В. П.
Войналович, О. Ю. |
|
| Subject |
напівпровідникова пам’ять
м’які помилки пакети помилок циклічні коди Semiconductor memory soft errors burst errors cyclic codes |
|
| Description |
Розглянуто типи дефектів і моделі помилок в пристроях динамічної напівпровідникової памяті з позицій завадостійкого кодування. Проведено аналіз використання завадостійких кодів для різних типів помилок: випадкових, пакетів помилок і байтових помилок. Запропоновано використання циклічних кодів для контролю напівпровідникової пам’яті.
The types of failures and models of errors in dynamic semiconductor memory (DRAM) from point of view of the error correcting coding are considered. The analysis of using of error correcting codes is carried for the different types of errors: random errors, bursts errors and byte errors. Cyclic codes for check of DRAM are suggected. |
|
| Date |
2018-05-25T11:15:01Z
2018-05-25T11:15:01Z 2018 |
|
| Type |
Thesis
|
|
| Identifier |
Семеренко В. П. Контроль напівпровідникових пристроїв пам’яті за допомогою циклічних кодів [Електронний ресурс] / В. П. Семеренко, О. Ю. Войналович // Матеріали XLVII науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 14-23 березня 2018 р. – Електрон. текст. дані. – 2018. – Режим доступу: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fitki/all-fitki-2018/paper/view/5074.
http://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/20628 681.32 |
|
| Language |
uk_UA
|
|
| Relation |
Матеріали XLVII науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 14-23 березня 2018 р.
https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fitki/all-fitki-2018/paper/view/5074 |
|
| Format |
application/pdf
|
|
| Publisher |
ВНТУ
|
|