Запис Детальніше

Зависимости термоэлектрических свойств от толщины тонких пленок теллурида свинца, легированного индием

Цифровой репозитарии Национального технического университета "Харьковский политехнический институт" (eNTUKhPIIR)

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Зависимости термоэлектрических свойств от толщины тонких пленок теллурида свинца, легированного индием
 
Creator Меньшикова, Светлана Ивановна
Рогачева, Елена Ивановна
Сипатов, А. Ю.
Матейченко, П. В.
Добротворская, М. В.
 
Subject теллурид свинца
тонкая пленка
размерный эффект
lead telluride
thin film
thickness
size effect
 
Description Получены зависимости термоэлектрических свойств (коэффициента Зеебека S, электропроводности σ, коэффициента Холла RH, подвижности носителей заряда μ и термоэлектрической мощности P = S²·σ) от толщины d (d = 10 – 255 нм) тонких пленок, полученных методом термического испарения в вакууме кристаллов PbTe, легированных индием, и последующей конденсации на подложки (111) BaF₂. При уменьшении толщины пленок до d ≈ 40 нм наблюдается инверсия типа проводимости с n- на р-тип, что связывается с изменением условий термодинамического равновесия и частичным реиспарением атомов свинца и/или индия. На толщинных зависимостях свойств при d1 ≈ 20 нм обнаружены экстремумы, наличие которых указывает на квантование дырочного газа. В области толщин с n-типом проводимости наблюдается плавное изменение термоэлектрических свойств с толщиной, что свидетельствует о проявлении классического размерного эффекта и достаточно хорошо описывается в рамках теории Фукса-Зондхеймера.
 
Date 2019-01-30T15:36:12Z
2019-01-30T15:36:12Z
2014
 
Type Article
 
Identifier Зависимости термоэлектрических свойств от толщины тонких пленок теллурида свинца, легированного индием / С. И. Меньшикова [и др.] // Термоэлектричество. – 2014. – № 6. – С. 60-71.
http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/39447
 
Language ru
 
Format application/pdf
 
Publisher Институт термоэлектричества Национальной академии наук