ДОСЛІДЖЕННЯ АМПЛІТУДНОЇ АНАЛОГОВОЇ МОДУЛЯЦІЇ НАПІВПРОВІДНИКОВИХ ЛАЗЕРІВ З УРАХУВАННЯМ ЕФЕКТІВ СТАРІННЯ
Наукові журнали НАУ
Переглянути архів ІнформаціяПоле | Співвідношення | |
Title |
ДОСЛІДЖЕННЯ АМПЛІТУДНОЇ АНАЛОГОВОЇ МОДУЛЯЦІЇ НАПІВПРОВІДНИКОВИХ ЛАЗЕРІВ З УРАХУВАННЯМ ЕФЕКТІВ СТАРІННЯ
Researches of peak analog modulation of semi-conductor lasers in view of effects of ageing Исследование амплитудной аналоговой модуляции полупроводниковых лазеров с учетом эффектов старения |
|
Creator |
Олійник, В.І.; Науково-виробнич епідприємство “Темп”
Олійник, Є.І.; Науково-виробниче об’єднання “Метрологія” Шмаров, В.М.; Аерокосмічний інститут НАУ |
|
Subject |
—
— — |
|
Description |
Досліджено амплітудно-частотні характеристики напівпровідникових лазерів інжекційного типу. Виконано вимірювання коефіцієнтів нелінійних перекручувань і глибини амплітудної модуляції таких лазерів у режимі струмової надвисокочастотної модуляції. Експериментальні дослідження проведено з використанням напівпровідникових лазерів після їх тривалого складського збереження, що моделює ефекти старіння.
Are investigated amplitude - frequency characteristics of injection semi-conductor lasers. Measurements of factors of nonlinear distortions and depths of peak modulation of such lasers in a current mode the microwave modulation are executed. Experimental researches are carried out with use of semi-conductor lasers after their long warehousing modeling effects of ageing. Исследованы амплитудно-частотные характеристики полупроводниковых лазеров инжекционного типа. Выполнены измерения коэффициентов нелинейных перекручиваний и глубины амплитудной модуляции таких лазеров в режиме токовой сверхвысокочастотной модуляции. Экспериментальные исследования проведены с использованием полупроводниковых лазеров после их длительного хранения, что моделирует эффекты старения. |
|
Publisher |
National Aviation University
|
|
Contributor |
—
— — |
|
Date |
2012-07-12
|
|
Type |
—
— — |
|
Format |
application/msword
|
|
Identifier |
http://jrnl.nau.edu.ua/index.php/visnik/article/view/1076
|
|
Source |
Proceedings of NAU; Том 21, № 4 (2004); 41
Вісник Національного авіаційного університету; Том 21, № 4 (2004); 41 Вісник Національного Авіаційного Університету; Том 21, № 4 (2004); 41 |
|
Language |
uk
|
|