Прикладные возможности рентгеновской топографии кристаллов в косоасимметричной схеме дифракции на отражение
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Прикладные возможности рентгеновской топографии кристаллов в косоасимметричной схеме дифракции на отражение
|
|
| Creator |
Фодчук, И.М.
Заплитный, Р.А. Роман, Ю.Т. Молодкин, В.Б. Владимирова, Т.П. Свянтек, З. |
|
| Subject |
Взаимодействия излучения и частиц с конденсированным веществом
|
|
| Description |
Показаны прикладные возможности использования модифицированного топографического метода Берга–Баррета в косоасимметричной схеме дифракции рентгеновских лучей на отражение при исследовании морфологии и структурных изменений вблизи поверхности кристаллов. Контролируемое изменение экстинкционной глубины проникновения рентгеновских лучей открывает новые возможности исследования структурных изменений в полупроводниковых материалах после различных внешних воздействий.
Показано прикладні можливості використання модифікованої топографічної методи Берґа–Баррета в косоасиметричній схемі дифракції Рентґенових променів на відбивання при дослідженні морфології та структурних змін поблизу поверхні кристалів. Контрольована зміна екстинкційної глибини проникнення Рентґенових променів відкриває нові можливості дослідження структурних змін у напівпровідникових матеріялах після різних зовнішніх впливів. The applied capabilities of use of modified Berg–Barrett topographic method in the skew-asymmetric x-ray Bragg diffraction setup for the study of morphology and structural changes near crystal surface are shown. A controlled change in the extinction depth of x-ray penetration opens up new possibilities for investigation of structural changes in semiconductor materials after various external influences. |
|
| Date |
2019-02-06T19:00:53Z
2019-02-06T19:00:53Z 2018 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Прикладные возможности рентгеновской топографии кристаллов в косоасимметричной схеме дифракции на отражение / И.М. Фодчук, Р.А. Заплитный, Ю.Т. Роман, В.Б. Молодкин, Т.П. Владимирова, З. Свянтек // Металлофизика и новейшие технологии. — 2018. — Т. 40, № 5. — С. 561-583. — Бібліогр.: 50 назв. — рос.
1024-1809 PACS: 07.85.-m, 41.50.+h, 61.05.C-, 61.72.Ff, 68.55.J-, 68.55.Ln, 81.05.Dz DOI: https://doi.org/10.15407/mfint.40.05.0561 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/146072 |
|
| Language |
ru
|
|
| Relation |
Металлофизика и новейшие технологии
|
|
| Publisher |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
|
|