Контроль фотопроводимости полупроводников при помощи СВЧ техники
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Контроль фотопроводимости полупроводников при помощи СВЧ техники
|
|
| Creator |
Бородин, Б. Г.
Вербицкий, В. Г. |
|
| Subject |
СВЧ смещение
омический контакт резонаторы фотопроводимость |
|
| Description |
The questions of microwave-biased research photoconductivity in semiconductors are considered in the report. It is showed that use of the quasi-statistic resonators for measuring of photoconductivity is more preferable. Are presented. results of theoretical and experimental researches. СВЧ смещение для исследования фотопроводимости (ФП) полупроводников ис-пользуется весьма широко и эффективно. Преимущества СВЧ смещения по сравнению с постоянным напряжением, заключающиеся, прежде всего, в отсутствии необходимости создавать омические контакты, обеспечили дальнейшее развитие этого направления. Убедительно показано, что применение СВЧ смещения при исследовании полупроводников позволяет получать более объективную информацию, а зачастую - качественно новую информацию.
|
|
| Date |
2016-08-02T09:24:35Z
2016-08-02T09:24:35Z 2011 |
|
| Type |
Conference proceedings
|
|
| Identifier |
Бородин, Б. Г. Контроль фотопроводимости полупроводников при помощи СВЧ техники / Б. Г. Бородин, Вербицкий В. Г. // Функциональная база наноэлектроники : сб. науч. тр. IV Междунар. науч. конф., 30 сент. – 3 окт. 2011 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2011. – С. 251–252.
http://openarchive.nure.ua/handle/document/1717 |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
ХНУРЭ
|
|