Встроенное диагностирование цифровых систем
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Встроенное диагностирование цифровых систем
|
|
| Creator |
Хаханов, В. И.
Чумаченко, С. В. Yves, T. Галаган, С. С. |
|
| Subject |
деффект
восстановление работоспособности матрица логических блоков программируемая логика SiP SoC |
|
| Description |
Рассмотрена проблема адаптации технологий тестирования цифровых систем для нового конструктивного поколения – System-in-Package (SiP), которое постепенно осваивает рынок электронных технологий. Пакет кристаллов формирует спектр новых задач сервисного обслуживания SiP- функциональностей в реальном масштабе времени, который существенно отличается от процессов встроенного диагностирования компонентов SoC (System on Chip)
|
|
| Date |
2016-09-06T11:53:09Z
2016-09-06T11:53:09Z 2009 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Хаханов В. И. Вбудоване діагностування цифрових систем / Хаханов В. И., Чумаченко С. В. Tiecoura Yves, Галаган С. С. // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) - 2009
http://openarchive.nure.ua/handle/document/2178 |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС)
|
|