Применение IEEE стандартов для тестирования программно-технических комплексов
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Применение IEEE стандартов для тестирования программно-технических комплексов
|
|
| Creator |
Хаханов, В. И.
Елисеев, В. В. |
|
| Subject |
System on Chip (SoC)
Network on Chip (NoC) IEEE стандарты ad-hoc технологии СTL |
|
| Description |
Предлагается подход к использованию IEEE стандартов тестирования для диагностирования сложных иерархических программно-технических комплексов, относящихся к критическим технологиям. Используются различные ad-hoc решения тестирования систем на кристаллах. Предложен алгоритм тестирования программно-технических комплексов на различных уровнях иерархии.
|
|
| Date |
2016-09-07T05:54:22Z
2016-09-07T05:54:22Z 2006 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Хаханов В. И. Применение IEEE стандартов для тестирования программно-технических комплексов / В. И. Хаханов, В. В. Елисеев // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) - 2006
http://openarchive.nure.ua/handle/document/2206 |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС)
|
|