Метод анализа тестопригодности цифровых устройств для псевдослучайного тестирования в системах встроенного самотестирования
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Метод анализа тестопригодности цифровых устройств для псевдослучайного тестирования в системах встроенного самотестирования
|
|
| Creator |
Кулак, Э. Н.
Каминская, М. А. Константинова, Ю. К. |
|
| Subject |
цифровые комбинационные схемы
тестопригодность самотестирование |
|
| Description |
Предлагается метод анализа тестопригодности для сложных цифровых комбинационных схем. Приводится алгоритм модификации устройства и генерации взвешенного теста для улучшения показателей тестопригодности. Присутствуют результаты моделирования схемы в системе SIGESTEST. Предложенный метод сравнивается с двумя аналогичными методами анализа тестопригодности.
|
|
| Date |
2016-09-07T11:49:59Z
2016-09-07T11:49:59Z 2009 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Кулак, Э. Н. Метод анализа тестопригодности цифровых устройств для псевдослучайного тестирования в системах встроенного самотестирования / Э. Н. Кулак, М. А. Каминская, Ю. К. Константинова // АСУ и приборы автоматики : всеукр. межвед. науч.-техн. сб. – Х. : Изд-во ХНУРЭ, 2009. – Вып. 147. – С. 9–15.
http://openarchive.nure.ua/handle/document/2261 |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
ХНУРЭ
|
|