Методы анализа и диагностирования цифровых устройств (аналитический обзор)
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Методы анализа и диагностирования цифровых устройств (аналитический обзор)
|
|
| Creator |
Багдади, Аммар Авни Аббас
Хаханов, В. И. Литвинова, Е. И. |
|
| Subject |
технологии проектирования систем на кристаллах
аналитический обзор квантовых методов вычислений технологии тестирования и диагностирования цифровых систем |
|
| Description |
Рассматриваются основные направления технологий проектирования, валидации и обеспечения качества (quality assurance) систем на кристаллах и в пакетах кристаллов. Цель – аналитический обзор квантовых методов вычислений, технологий тестирования и диагностирования цифровых систем на кристаллах при их проектировании и верификации, ориентированный на повышение быстродействия программных и аппаратных средств анализа цифровых устройств, а также существенное увеличение выхода годной продукции и уменьшение времени ее выхода на рынок микроэлектроники.
|
|
| Date |
2016-09-08T10:35:46Z
2016-09-08T10:35:46Z 2014 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Аббас, Б. А. А. Методы анализа и диагностирования цифровых устройств (аналитический обзор) / Багхдади Аммар Авни Аббас, В. И. Хаханов, Е. И. Литвинова // АСУ и приборы автоматики : всеукр. межвед. науч.-техн. сб. – Харьков : Изд-во ХНУРЭ, 2013. – Вып. 166. – С. 59–75.
http://openarchive.nure.ua/handle/document/2328 |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
ХНУРЭ
|
|