Підвищення якості тесту на основі методу аналізу тестопригодности пристрої на різних рівнях опису
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Підвищення якості тесту на основі методу аналізу тестопригодности пристрої на різних рівнях опису
|
|
| Creator |
Зайченко, С. А.
Каминская, М. А. |
|
| Subject |
тестопригодность
управляемость наблюдаемость путь сканирования детерминированный тест взвешенный тест |
|
| Description |
Предлагается метод анализа тестопригодности цифрового устройства, представленного на системном уровне в виде кода VHDL и трансформированого в ориентированный граф для упрощения задач верификации, синтеза тестов и/или улучшения покрытия неисправностей для заданных входных наборов. Метод основан на топологическом анализе синтезированного устройства и последующей его модификации путем разделения режимов работы (тестовый и функциональный) в целях улучшения тестопригодности и упрощения решения задач тестирования.
|
|
| Date |
2016-09-13T09:10:50Z
2016-09-13T09:10:50Z 2007 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Зайченко С. А. Підвищення якості тесту на основі методу аналізу тестопригодности пристрої на різних рівнях опису / Зайченко С. А., Каминская М. А. // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) - 2007
http://openarchive.nure.ua/handle/document/2447 |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС)
|
|