Методы моделирования тепловых повреждений полупроводниковых приборов
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Методы моделирования тепловых повреждений полупроводниковых приборов
Методы моделирования тепловых повреждений полупроводниковых приборов |
|
| Creator |
Chumakov, V. I.
|
|
| Subject |
Деградации, перегрузки, тепловые повреждения, модель Wunsch-Bell
|
|
| Description |
Литература. 1. Wunsch D.S.,, Bell R.R. Determination of threshold failure level of semiconductors diodes and transistors due to pulse voltage // IEEE Trans. on Nuclear Sci., 1968. Vol.15, N6. Р.244-259. 2. R.J. Antinone. How to prevent circuit zapping // IEEE Spectrum. 1987, Vol.4, N24. Р.34-38. 3. A comparison of DC and RF pulse susceptibilities of UHF transistors // IEEE Trans. on Electromagnetic Compatibility, 1977. Vol.19, N9. Р.49-56. 4. Мырова Л.О., Чепиженко А. З. Обеспечение стойкости аппаратуры связи к ионизирующим и электромагнитным излучениям. М.: Радио и связь, 1988. 296с. 5. Блудов С.Б., Гадецкий Н.П., Магда И.И. и др. Еенерирование мощных СВЧ-импульсов ультракороткой длительности и их воздействие на изделия электронной техники // Физика плазмы, 1994. Т.20. Вып.7,8. С.712-717. 6 Бригидин А.М., Листопад Н.И., Титович Н.А., Ясюля Г.И. Исследование восприимчивости полупроводниковых приборов и интегральных схем к воздействию ВЧ и СВЧ помех // Радиотехника и электроника. Минск.: Вышэйшая школа. 1990. Вып.19. С. 115-119. 7. Dwyer V.M., Franklin A.J., Campbell D.S. Thermal failure in semiconductor devices // Solid State Electronics. 1990. Vol.33. Р.553-560. 8. Dwyer V.M., Franklin A.J., Campbell D.S. Electromagnetic discharge thermal failure in semiconductor devices // IEEE Trans. on Electr. Dev. 1990. Vol.37, N11. Р.2381-2387. 9. Камья Ф.М. Импульсная теория теплопроводности: Пер. с франц./ Под ред. А.В. Лыкова. М.: Энергия. 1972. 272с. 10. СВЧ устройства на полупроводниковых диодах. Проектирование и расчет / Под ред. И.В.Мальского и Б.В. Сестрорец-кого. М.: Сов. радио, 1969. 580с. 11. Mortenson K.K. Analysis of the temperature rise in PIN diodes caused by microwave pulse dissipation // IEEE Trans. on Electr. Dev., 1966. Vol.13, N3. Р.305-313. 12. Shousha A.H.M. Negative differential conductivity due to electrothermal instabilities in thin amorphous films // J.Appl.Phys. 1971. Vol.42, N12. Р.5131-5236. 13. Lange T.J., Hjellen G.A. A comparison oftest and model-predicted RF-pulse susceptibilities of UHF transistors // IEEE Trans. on Electromagnеtiс Compatibility. 1978. Vol.20, N.4. Р.513-514. 14. ВоробьевГ.А., МухачевВ.А. Пробой тонких диэлектрических пленек. М.:Сов. радио. 1977. 72с. 15. WongK.L. Effects of electromagnetic interference for electromagnetic pulses incident on microstrip circuits / IEE Proceedings. 1990. Vol.137, N1. Р.75-77. 16. Вирченко Ю.П., Водяницкий А.А., Ковтун Г.П. Локализация тепла и становление структуры теплового пробоя. Обзор: Харьков, ХФТИ, 1992. 32с. (препринт). 17. Галактионов В.А., Курдюмов С.П., Посашков С.А., Самарский А.А. Квазилинейное параболическое уравнение со сложным спектром неограниченных автомодельных решений. В кн.: Математическое моделирование. Процессы в нелинейных средах. М.: Наука, 1986. С.142-182. 18. Smith J.S. Electrical overstress failure analysis in microcircuits // 16 Annual Proceedings Reliability Physics. IEEE Proceedings Reliability Physics. 1978. Р.41-46. 19. МаллерР., Кеймингс Т. Элементы интегральных схем: Пер. с англ. М.: Мир, 1989. 630 с. КиберЛенинка: https://cyberleninka.ru/article/n/metody-modelirovaniya-teplovyh-povrezhdeniy-poluprovodnikovyh-priborov Приводится обзор моделей анализа тепловых деградаций полупроводниковых приборов при действии импульсных электрических перегрузок. Развивается линейная тепловая модель импульсных повреждений. |
|
| Date |
2018-01-29T12:03:04Z
2018-01-29T12:03:04Z 1999 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
http://openarchive.nure.ua/handle/document/4233
|
|
| Language |
ru
|
|
| Relation |
№2, 1999;
|
|
| Publisher |
Kharkov National University of Radioelectronics
|
|