Дифракционный ответвитель для измерения характеристик лазерного излучения
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Дифракционный ответвитель для измерения характеристик лазерного излучения
|
|
| Creator |
Епишин, В. А.
Неофитный, М. В. |
|
| Description |
С целью применения дифракционных структур для измерения характеристик лазерного излучения проведено исследование дифракции этого излучения на редких проволочных решетках, включая случаи непериодического расположения проводников. Теоретическое рассмотрение выполнено в приближении однократного рассеяния падающего излучения дифракционно не взаимодействующими элементами редких решеток. Подробно изучена дифракция Френеля, при которой обнаружено новое свойство — отображение при определенных параметрах решеток диаграммы направленности падающего пучка, что позволяет упростить существующие схемы измерения характеристик излучения и увеличить диапазон измеряемых величин. Показано, что неэквидистантная решетка, обладающая, указанным свойством, вносит меньше искажений в прошедший пучок при дифракции Френеля, чем периодическая. Исследована поляризационная зависимость рассеянного поля, позволяющая применять данные ответвители для определения направления поляризации.
|
|
| Date |
2018-06-13T12:36:10Z
2018-06-13T12:36:10Z 1982 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Епишин В. А. Дифракционный ответвитель для измерения характеристик лазерного излучения / В. А. Епишин, М. В. Неофитный. // Квантовая электроника. – 1982. – Том 9, №4. – С. 718–725.
http://openarchive.nure.ua/handle/document/6135 |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН
|
|