Алгоритм диагностирования тестопригодных цифровых структур
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Алгоритм диагностирования тестопригодных цифровых структур
|
|
| Creator |
Хаханов, В. И.
Скорцова, О. Б. Монжаренко, И. В. |
|
| Subject |
алгоритм диагностирования
диагностирование цифровых устройств |
|
| Description |
Предложен безусловный алгоритм диагностирования цифровых устройств, использующий заложенную на стадии проектирования тестопригодность
|
|
| Date |
2018-11-16T14:01:32Z
2018-11-16T14:01:32Z 1998 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Хаханов В. И. Алгоритм диагностирования тестопригодных цифровых структур / В. И. Хаханов, О. Б. Скорцова, И. В. Монжаренко // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХНУРЭ, 1998. – Вып. 2. – С. 127-129.
http://openarchive.nure.ua/handle/document/7266 |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
ХНУРЭ
|
|