Количественные оценки тестопригодности цифровых устройств на схемотехническом уровне
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Количественные оценки тестопригодности цифровых устройств на схемотехническом уровне
|
|
| Creator |
Кривуля, Г. Ф.
Рами Аль-Матернех Шкиль, А. С. |
|
| Subject |
тестопригодность
цифровое устройство |
|
| Description |
Рассматривается выбор и вычисление оценок тестопригодности для цифрового устройства, которые характеризуют затраты на построение диагностического обеспечения.
|
|
| Date |
2018-11-21T12:17:17Z
2018-11-21T12:17:17Z 1998 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Кривуля Г. Ф. Количественные оценки тестопригодности цифровых устройств на схемотехническом уровне / Г. Ф. Кривуля, Рами Аль-Матернех, А. С. Шкиль // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХНУРЭ, 1998. – Вып. 4. – С. 75-79.
http://openarchive.nure.ua/handle/document/7327 |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
ХНУРЭ
|
|