Дедуктивный метод кубического моделирования неисправностей цифровых устройств
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Дедуктивный метод кубического моделирования неисправностей цифровых устройств
|
|
| Creator |
Хаханов, В. И.
Шкиль, А. С. Ханько, В. В. |
|
| Subject |
метод дедуктивного моделирования
тест-вектор входной список неисправностей |
|
| Description |
Предлагается метод дедуктивного моделирования константных логических неисправностей для цифровых устройств (ЦУ), где функциональные элементы представлены в виде кубических покрытий. Впервые получено аналитическое выражение формального анализа покрытия на тест-векторе для транспортирования входных списков неисправностей на выход примитива. Метод инвариантен по отношению к формам представления цифровых схем, задающим способы описания вентилей, функциональных элементов, алгоритмов. Известные дедуктивные формулы анализа вентильных схем являются частным случаем полученного выражения. |
|
| Date |
2018-12-20T15:02:43Z
2018-12-20T15:02:43Z 1999 |
|
| Type |
Article
Book |
|
| Identifier |
Хаханов В. И. Дедуктивный метод кубического моделирования неисправностей цифровых устройств / Хаханов В. И., Шкиль А. С., Ханько В. В. // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХГТУРЭ, 1999. – Вып. 1. – С. 77–84.
http://openarchive.nure.ua/handle/document/7596 |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
ХГТУРЭ
|
|