Аналіз методів попередньої обробки малоконтрастних зображень, отриманих за допомогою електронно-оптичних засобів дефектоскопії
Цифровой репозитарии Национального технического университета "Харьковский политехнический институт" (eNTUKhPIIR)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Аналіз методів попередньої обробки малоконтрастних зображень, отриманих за допомогою електронно-оптичних засобів дефектоскопії
|
|
| Creator |
Панасенко, Д. П.
Смолін, Юрій Олександрович Крикун, В. Р. |
|
| Subject |
малоконтрасні дефекти
тріщини відколи вм'ятини |
|
| Date |
2019-02-22T11:35:47Z
2019-02-22T11:35:47Z 2018 |
|
| Type |
Thesis
|
|
| Identifier |
Панасенко Д. П. Аналіз методів попередньої обробки малоконтрастних зображень, отриманих за допомогою електронно-оптичних засобів дефектоскопії / Д. П. Панасенко, Ю. О. Смолін, В. Р. Крикун // Актуальні проблеми автоматики та приладобудування : матеріали 2-ї Міжнар. наук.-техн. конф., 06-07 грудня 2018 р. – Харків : Панов А. М., 2018. – С. 131-132.
http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/39867 |
|
| Language |
uk
|
|
| Format |
application/pdf
|
|
| Publisher |
Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
ФОП Панов А. М. |
|