Запис Детальніше

Обработка сигнала в сканирующей микроволновой микроскопии

Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Обработка сигнала в сканирующей микроволновой микроскопии
 
Creator Гордиенко, Ю. Е.
Карнаушенко, В. П.
Чхотуа, М. С. Е.
 
Subject наноэлектроника
микроволновая микроскопия
СВЧ-резонатор
медтехника
 
Description Using of scanning probe microscopes for material analysis is the prospective area of modern microelectronics. In present work actual questions of scanning microwave microscope signal processing are considered. Микроволновая сканирующая микроскопия (МСМС) является прогрессивным инструментом для решения задач диагностики характеристик материалов микро- и наноэлектроники. Суть метода заключается в измерении интегральных характеристик СВЧ-резонатора, который имеет высокую чувствительность к параметрам исследуемого объекта, внесенного в активную зону резонатора.
 
Date 2016-08-02T10:30:19Z
2016-08-02T10:30:19Z
2011
 
Type Conference proceedings
 
Identifier Гордиенко, Ю. Е.Обработка сигнала в сканирующей микроволновой микроскопии / Ю. Е. Гордиенко // Функциональная база наноэлектроники : сб. науч. тр. IV Междунар. науч. конф., 30 сент. – 3 окт. 2011 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2011. – С. 254–257.
http://openarchive.nure.ua/handle/document/1729
 
Language ru
 
Publisher ХНУРЭ