Обработка сигнала в сканирующей микроволновой микроскопии
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів ІнформаціяПоле | Співвідношення | |
Title |
Обработка сигнала в сканирующей микроволновой микроскопии
|
|
Creator |
Гордиенко, Ю. Е.
Карнаушенко, В. П. Чхотуа, М. С. Е. |
|
Subject |
наноэлектроника
микроволновая микроскопия СВЧ-резонатор медтехника |
|
Description |
Using of scanning probe microscopes for material analysis is the prospective area of modern microelectronics. In present work actual questions of scanning microwave microscope signal processing are considered. Микроволновая сканирующая микроскопия (МСМС) является прогрессивным инструментом для решения задач диагностики характеристик материалов микро- и наноэлектроники. Суть метода заключается в измерении интегральных характеристик СВЧ-резонатора, который имеет высокую чувствительность к параметрам исследуемого объекта, внесенного в активную зону резонатора.
|
|
Date |
2016-08-02T10:30:19Z
2016-08-02T10:30:19Z 2011 |
|
Type |
Conference proceedings
|
|
Identifier |
Гордиенко, Ю. Е.Обработка сигнала в сканирующей микроволновой микроскопии / Ю. Е. Гордиенко // Функциональная база наноэлектроники : сб. науч. тр. IV Междунар. науч. конф., 30 сент. – 3 окт. 2011 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2011. – С. 254–257.
http://openarchive.nure.ua/handle/document/1729 |
|
Language |
ru
|
|
Publisher |
ХНУРЭ
|
|