Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory
|
|
| Creator |
Gritcov, S.S.
Sorokin, G.F. Shestacova, T.V. |
|
| Subject |
Современные электронные технологии
|
|
| Description |
This paper presents single dynamic faults and methods for their detection. Such dynamic faults as dRDF, dDRDF and dIRF are considered in detail. Also, pseudo-ring testing and the principles of single dynamic faults detecting by pseudo-ring tests are considered. The paper presents the resolution determination results for pseudo-ring tests in relation to these faults in the word-oriented memory. Also, a comparative analysis of the pseudo-ring tests with known March tests is done. The results show that pseudo-ring tests with an algorithmic complexity of (30—60)N, where N is the number of all memory cells, can cover from 75 to 100% of all single dynamic faults. This advantage allows using pseudo-ring tests as an alternative to existing classical and March tests.
В данной работе представлены одиночные динамические неисправности цифровой памяти и методы их обнаружения. Детально рассмотрены такие динамические неисправности, как динамическое разрушающее чтение (dynamic Read Destructive Fault — dRDF), динамическое мнимое разрушающее чтение (dynamic Deceptive Read Destructive Fault — dDRDF) и динамическое некорректное чтение (dynamic Incorrect Read Fault — dIRF). У даній роботі представлені одиночні динамічні несправності цифрової пам’яті і методи їхнього виявлення. Детально розглянуто такі динамічні несправності, як динамічне руйнувальне читання (Dynamic Read Destructive Fault — dRDF), динамічне уявне руйнуюче читання (dynamic Deceptive Read Destructive Fault — dDRDF) і динамічне некоректне читання (dynamic Incorrect Read Fault — dIRF) . |
|
| Date |
2019-04-03T18:54:25Z
2019-04-03T18:54:25Z 2018 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory / S.S. Gritcov, G.F. Sorokin, T.V. Shestacova // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2018. — № 5-6. — С. 3-9. — Бібліогр.: 15 назв. — англ.
2225-5818 DOI: 10.15222/TKEA2018.5-6.03 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/150282 004.33 |
|
| Language |
en
|
|
| Relation |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
|
|
| Publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
|
|