Лабораторный макет для измерения электрофизических параметров тонких пленок
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Лабораторный макет для измерения электрофизических параметров тонких пленок
|
|
| Creator |
Криштафович, С. А.
Бородин, А. В. |
|
| Subject |
Измерения электрофизических параметров
Параметры тонких пленок |
|
| Description |
Thin films have different electro physical parameters: electro conductivity, thermal conductivity and electrical stability. This article is about device, which help analyze different temperature dependence. This device is built by microcontroller Atmega 256 and sensor Si7051.
|
|
| Date |
2019-04-17T11:09:15Z
2019-04-17T11:09:15Z 2017 |
|
| Type |
Thesis
|
|
| Identifier |
Криштафович С. А. Лабораторный макет для измерения электрофизических параметров тонких пленок / С. А. Криштафович, А. В. Бородин // Радіоелектроніка та молодь у ХХІ столітті : зб. тез. доп. ХХI Харків. конф. молодих науковців, 25–27 квіт. 2017 р. – Харків, 2017. – С. 35.
http://openarchive.nure.ua/handle/document/8391 |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
ХНУРЕ
|
|