|
Поле |
Співвідношення |
|
Title |
Devices and systems design reliability estimation
|
|
Creator |
Nedostup, Leonid
Bobalo, Yuriy
Kiselychnyk, Myroslav
Lazko, Oxana
|
|
Subject |
design reliability
stress-strength models
Gram-Charlier rows
|
|
Description |
The updated approach for devices and systems reliability estimation was proposed. An two-dimensional "Stress–strength" probability model based on application of Gram-Charlier and Edgeworth rows was obtained.
|
|
Date |
2012-09-11T08:46:48Z
2012-09-11T08:46:48Z
2012
|
|
Type |
Article
|
|
Identifier |
Nedostup L. Devices and systems design reliability estimation / Leonid Nedostup, Yuriy Bobalo, Myroslav Kiselychnyk, Oxana Lazko // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії TCSET'2012 : матеріали XI Міжнародної конференції, присвяченої 60-річчю заснування радіотехнічного факультету у Львівській політехніці, 21-24 лютого 2012, Львів, Славське, Україна / Міністерство освіти і науки, молоді та спорту України, Національний університет "Львівська політехніка". - Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. - С. 45-46. - Bibliography: 3 titles. - Паралельний титульний аркуш англійською.
http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/14205
|
|
Language |
en
|
|
Publisher |
Національний університет "Львівська політехніка"
|
|