Запис Детальніше

Devices and systems design reliability estimation

Електронний науковий архів Науково-технічної бібліотеки Національного університету "Львівська політехніка"

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Devices and systems design reliability estimation
 
Creator Nedostup, Leonid
Bobalo, Yuriy
Kiselychnyk, Myroslav
Lazko, Oxana
 
Subject design reliability
stress-strength models
Gram-Charlier rows
 
Description The updated approach for devices and systems reliability estimation was proposed. An two-dimensional "Stress–strength" probability model based on application of Gram-Charlier and Edgeworth rows was obtained.
 
Date 2012-09-11T08:46:48Z
2012-09-11T08:46:48Z
2012
 
Type Article
 
Identifier Nedostup L. Devices and systems design reliability estimation / Leonid Nedostup, Yuriy Bobalo, Myroslav Kiselychnyk, Oxana Lazko // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії TCSET'2012 : матеріали XI Міжнародної конференції, присвяченої 60-річчю заснування радіотехнічного факультету у Львівській політехніці, 21-24 лютого 2012, Львів, Славське, Україна / Міністерство освіти і науки, молоді та спорту України, Національний університет "Львівська політехніка". - Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. - С. 45-46. - Bibliography: 3 titles. - Паралельний титульний аркуш англійською.
http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/14205
 
Language en
 
Publisher Національний університет "Львівська політехніка"