Using the thermal-field measurements to evaluation the parameters of the MC based on AS
Електронний науковий архів Науково-технічної бібліотеки Національного університету "Львівська політехніка"
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Using the thermal-field measurements to evaluation the parameters of the MC based on AS
|
|
| Creator |
Kychak, Vasyl
Slobodian, Ivan |
|
| Subject |
Memory cell
amorphous semi-conductors electrical conductivity |
|
| Description |
In this paper the thermal-field measurements for evaluating the parameters of the memory cells (MC) based on amorphous semiconductors (AS) are used for the analysis of the temperature dependence of differential electrical conductivity of memory cells. |
|
| Date |
2012-09-17T11:41:28Z
2012-09-17T11:41:28Z 2012 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Kychak V. Geometrically oriented video tracking / Vasyl Kychak, Ivan Slobodian // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії TCSET'2012 : матеріали XI Міжнародної конференції, присвяченої 60-річчю заснування радіотехнічного факультету у Львівській політехніці, 21-24 лютого 2012, Львів, Славське, Україна / Міністерство освіти і науки, молоді та спорту України, Національний університет "Львівська політехніка". - Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 153. - Bibliography: 3 titles. – Паралельний титульний аркуш англійською.
http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/14372 |
|
| Language |
en
|
|
| Publisher |
Національний університет "Львівська політехніка"
|
|