Оценка макроскопических параметров твердотельной плазмы в полупроводнике
Наукові видання Харківського національного університету Повітряних Сил
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Оценка макроскопических параметров твердотельной плазмы в полупроводнике
Оцінка макроскопічних параметрів твердотільної плазми у напівпровіднику The estimation of macroscopic parameters of solid plasma in a semiconductor |
|
| Creator |
Г.Ф. Коняхин
А.Ю. Мелашенко А.М. Сотников В.В. Белимов Г.Ф. Коняхин О.Ю. Мелашенко O.М. Сотников В.В. Белимов G.F. Konjahin A.Ju. Melashenko A.M. Sotnikov V.V. Belimov |
|
| Subject |
Загальні питання
УДК 623.62:621.315.5 |
|
| Description |
Изложены основные подходы к определению основных макроскопических равновесных параметров полупроводникового слоя поглощающего покрытия радиоизотопного типа.
Викладені основні підходи до визначення основних макроскопічних параметрів напівпровідникового шару поглинаючого покриття радіоізотопного типу. The basic approaches to the determination of the basic macroscopic parameters of the semiconductor layer of the radioisotopic type absorber are given in the article. |
|
| Publisher |
Харківський національний університет Повітряних Сил ім. І. Кожедуба
Харьковский национальный университет Воздушных Сил им. И. Кожедуба Kharkiv national Air Force University named after I. Kozhedub |
|
| Date |
2002
|
|
| Type |
info:eu-repo/semantics/article
info:eu-repo/semantics/publishedVersion Рецензована стаття |
|
| Format |
application/pdf
|
|
| Identifier |
http://www.hups.mil.gov.ua/periodic-app/article/4400
|
|
| Source |
Системи обробки інформації. — 2002. — № 1(17). 228-231
Системы обработки информации. — 2002. — № 1(17). 228-231 Information Processing Systems. — 2002. — № 1(17). 228-231 1681-7710 |
|
| Language |
rus
|
|
| Relation |
http://www.hups.mil.gov.ua/periodic-app/article/4400/soi_2002_1_47.pdf
|
|