Застосування мікроконтролерів ST в неруйнівній діагностиці матеріалів
Електронного архіву Харківського національного університету радіоелектроніки (Open Access Repository of KHNURE)
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Застосування мікроконтролерів ST в неруйнівній діагностиці матеріалів
|
|
| Creator |
Адаменко, Е. И.
Карнаушенко, В. П. |
|
| Subject |
Мікроконтролери
діагностика матеріалів |
|
| Description |
Non-destructive diagnostics is a combination of methods for measuring and monitoring product quality indicators without changing its inherent properties, dimensions and characteristics. Conventional methods of measurement and control are carried out in order to establish whether the product meets the specified requirements or determine the values of its parameters. Non-destructive diagnostics allows you to receive additional information, exclude unreliable products with hidden defects already in production, select the most reliable samples for working in difficult conditions, determine the causes of latent defects in order to eliminate them in time.
|
|
| Date |
2019-05-29T12:05:40Z
2019-05-29T12:05:40Z 2019 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Адаменко Е. И. Застосування мікроконтролерів ST в неруйнівній діагностиці матеріалів / Е. И. Адаменко, В. П. Канаушенко // Радіоелектроніка та молодь у ХХІ столітті : зб. тез. доп. ХХІІI Харків. конф. молодих науковців, 16–18 квіт. 2019 р. – Харків, 2019. – С. 5.
http://openarchive.nure.ua/handle/document/9011 |
|
| Language |
uk
|
|
| Publisher |
ХНУРЕ
|
|