Метод восстановления работоспособности микропроцессорных систем высокой готовности при отказах, связанных с воздействием электростатических разрядов
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Метод восстановления работоспособности микропроцессорных систем высокой готовности при отказах, связанных с воздействием электростатических разрядов
|
|
| Creator |
Белявин, В.Ф.
|
|
| Subject |
Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення
|
|
| Description |
Системы высокой готовности должны обеспечивать минимальное время простоя. Воздействие разрядов статического электричества на микропроцессорную систему высокой готовности может вызвать отказ. По результатам авторского контроля микропроцессорных систем, в условиях длительной непрерывной их эксплуатации на более чем пятистах объектах страны, наблюдался отказ, который имел признаки устранимого отказа. Экспериментально установлено, что перезапуск микроконтроллера микропроцессорной системы по входу сброса гарантированно не выводит его из состояния зависания. Высокая степень микроминиатюризации компонентов кристалла микроконтроллера влечет за собой повышение чувствительности к воздействию электростатических разрядов. Приведены данные по относительной чувствительности к воздействию электростатических разрядов на полупроводниковые элементы различных структур под влиянием статического электричества на базовые элементы структуры микроконтроллера.
Системи високої готовності повинні забезпечувати мінімальний час простою. Вплив розрядів статичної електрики на мікропроцесорну систему високої готовності може викликати відмову. За результатами авторського контролю мікропроцесорних систем, в умовах тривалої безперервної їх експлуатації на більш ніж п'ятистах об'єктах країни, спостерігалась відмова, яка мала ознаки усувної відмови. Експериментально встановлено, що перезапуск мікроконтролера мікропроцесорної системи по входу скидання гарантовано не виводить його зі стану зависання. Високий ступінь мікромініатюризації компонентів кристала мікроконтролера тягне за собою підвищення чутливості до впливу електростатичних розрядів. Наведено дані щодо відносної чутливості до впливу електростатичних розрядів на напівпровідникові елементи різних структур під впливом статичної електрики на базові елементи структури мікроконтролера. Systems of high availability should provide minimal downtime. The impact of electrostatic discharges on a microprocessor system of high availability can cause a failure. According to the results of the author's control of microprocessor systems, in the conditions of their long-term continuous operation at more than five hundred objects of the country, there was a failure, which had signs of an avoidable failure. It was established experimentally that restarting the microcontroller of the microprocessor system on the reset input is guaranteed not to take it out of the hang state. The high degree of microminiaturization of the components of the microcontroller crystal entails an increase in sensitivity to the effects of electrostatic discharges. The data on the relative sensitivity to the effects of electrostatic discharges on the semiconductor elements of various structures, on the effect of static electricity on the basic elements of the structure of the microcontroller were given. |
|
| Date |
2019-06-01T17:04:36Z
2019-06-01T17:04:36Z 2019 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Метод восстановления работоспособности микропроцессорных систем высокой готовности при отказах, связанных с воздействием электростатических разрядов / В.Ф. Белявин // Математичні машини і системи. — 2019. — № 1. — С. 179–190. — Бібліогр.: 13 назв. — рос.
1028-9763 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/151941 681.323 |
|
| Language |
ru
|
|
| Relation |
Математичні машини і системи
|
|
| Publisher |
Інститут проблем математичних машин і систем НАН України
|
|