Исследование спектральных зависимостей коэффициента поглощения в тонких пленках гидрированного кремния методом постоянного фототока с модулированным возбуждением
DSpace at NTB NTUU KPI
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Исследование спектральных зависимостей коэффициента поглощения в тонких пленках гидрированного кремния методом постоянного фототока с модулированным возбуждением
|
|
| Creator |
Емельянов, А. В.
Казанский, А. Г. Кашкаров, П. К. Ларкин, С. Ю. Новиков, Е. И. Форш, П. А. Хенкин, М. В. |
|
| Subject |
протокристаллический кремний
моносилан кремниевый нанокристалл рамановская спектроскопия метод постоянного фототока фотопроводимость спектр поглощения 535.341.08:621.315.592 |
|
| Publisher |
Киев
НТУУ "КПИ" |
|
| Date |
2013-08-12T13:05:44Z
2013-08-12T13:05:44Z 2012 |
|
| Type |
Article
|
|
| Format |
С. 5-9
|
|
| Identifier |
Исследование спектральных зависимостей коэффициента поглощения в тонких пленках гидрированного кремния методом постоянного фототока с модулированным возбуждением / А. В. Емельянов, А. Г. Казанский, П. К. Кашкаров, С. Ю. Ларкин, Е. И. Новиков, П. А. Форш, М. В. Хенкин // Электроника и связь : научно-технический журнал. – 2012. – № 2(67). – С. 5–9. – Библиогр.: 8 назв.
http://ela.kpi.ua/handle/123456789/3459 |
|
| Source |
Электроника и связь: научно-технический журнал
Электроника и связь: научно-технический журнал |
|
| Language |
ru
|
|