Detection of stresses induced by heat flux in a solid by using a photoelastic microscope
DSpace at NTB NTUU KPI
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Detection of stresses induced by heat flux in a solid by using a photoelastic microscope
Детектування індукованих тепловим потоком напружень в твердому тілі за допомогою фотопружного мікроскопу Детектирование индуцированных тепловым потоком напряжений в твердом теле с помощью фотоупругого микроскопа |
|
| Creator |
Matyash, I. E.
Minaylova, I. A. Mischuk, O. N. Oliinyk, O. O. Serdega, B. K. Tsyganok, B. A. Матяш, І. Є. Міняйлова, I. A. Miщук, О. М. Олійник, O. O. Сердега, Б. К. Циганок, Б. А. Матяш, И. Е. Миняйлова, И. А. Мищук, А. М. Олийник, О. О. Сердега, Б. К. Цыганок, Б. А. |
|
| Subject |
modulation polarimetry
birefringence heat flow thermoelastisity photoelastic microscope модуляційна поляриметрія двопроменезаломлення тепловий потік термопружність фотопружний мікроскоп модуляционная поляриметрия двулучепреломление тепловой поток термоупругость фотоупругий микроскоп 534.51; 539.3; 535.347 |
|
| Publisher |
Киев
НТУУ "КПИ" |
|
| Date |
2015-01-15T09:25:55Z
2015-01-15T09:25:55Z 2014 |
|
| Type |
Article
|
|
| Format |
С. 9-22
|
|
| Identifier |
Detection of stresses induced by heat flux in a solid by using a photoelastic microscope / I. E. Matyash, I. A. Minaylova, O. N. Mischuk, O. O. Oliinyk, B. K. Serdega, B. A. Tsyganok // Электроника и связь : научно-технический журнал. – 2014. – Т. 19, № 2(79). – С. 9–22. – Библиогр.: 20 назв.
http://ela.kpi.ua/handle/123456789/10114 |
|
| Source |
Электроника и связь: научно-технический журнал
|
|
| Language |
en
|
|