Метрологія та надійність ІВС. Основи надійності
DSpace at NTB NTUU KPI
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Метрологія та надійність ІВС. Основи надійності
|
|
| Subject |
метрологія
основи надійності |
|
| Publisher |
Київ
НТУУ «КПІ» |
|
| Date |
2015-02-09T13:04:10Z
2015-02-09T13:04:10Z 2014 |
|
| Type |
Metodical Matherial
|
|
| Format |
53 с.
|
|
| Identifier |
Метрологія та надійність ІВС. Основи надійності [Електронний ресурс] : методичні вказівки до вивчення 2 розділу дисципліни для студентів спеціальності 7.05100102, 8.05100102 «Інформаційні вимірювальні системи» / НТУУ «КПІ» ; уклад. Є. Т. Володарський, Д. С. Шантир. – Електронні текстові дані (1 файл: 722 Кбайт). – Київ : НТУУ «КПІ», 2014. – 53 с. – Назва з екрана.
http://ela.kpi.ua/handle/123456789/10411 |
|
| Language |
uk
|
|