Запис Детальніше

Прогнозування терміну надійної експлуатації інтегральних мікросхем радіотехнічних пристроїв

DSpace at NTB NTUU KPI

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Прогнозування терміну надійної експлуатації інтегральних мікросхем радіотехнічних пристроїв
Prognostication of time of reliable exploitation of integral microcircuits of radiotechnical devices
Прогнозирование времени надежной эксплуатации интегральных микросхем радиотехнических устройств
 
Creator Андрієнко, В. О.
Іванченко, В. В.
Гончаров, А. В.
Скорина, Є. В.
Антонюк, В. С.
Andrienko, V. O.
Ivanchenko, V. V.
Goncharov, A. V.
Skorina, E. V.
Antonjuk, V. S.
Андриенко, В. А.
Иванченко, В. В.
Гончаров, А. В.
Скорина, Е. В.
Антонюк, В. С.
 
Subject верифікація елементів пам’яті
строк служби
інтегральні мікросхеми
прогнозування
атомно-силова мікроскопія
verification of memory cells
tenure of employment
integral microchips
prognostication
atomic-force microscopy
верификация ячеек памяти
срок службы
интегральные микросхемы
прогнозирование
атомно-силовая микроскопия
519.718.2
 
Publisher Київ
НТУУ "КПІ"
 
Date 2015-03-13T15:25:27Z
2015-03-13T15:25:27Z
2014
 
Type Article
 
Format С. 125-130
 
Identifier Прогнозування терміну надійної експлуатації інтегральних мікросхем радіотехнічних пристроїв / Андрієнко В. О., Іванченко В. В., Гончаров А. В., Скорина Є. В., Антонюк В. С. // Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування : збірник наукових праць. – 2014. – Вип. 48(2). – С. 125–130. – Бібліогр.: 8 назв.
http://ela.kpi.ua/handle/123456789/10888
 
Source Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування: збірник наукових праць
 
Language uk