Методика аналізу якості приладів на етапах вихідного контролю та випробувань
DSpace at NTB NTUU KPI
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Методика аналізу якості приладів на етапах вихідного контролю та випробувань
The method of analysis of devices quality at stages of the final control and tests Методика анализа качества приборов на этапах выходного контроля и испытаний |
|
| Creator |
Румбешта, В. О.
Андрусенко, О. О. Rumbeshta, V. O. Andrusenko, O. O. Румбешта, В. А. Андрусенко, Е. А. |
|
| Subject |
621.7.01
|
|
| Publisher |
Київ
НТУУ "КПІ" |
|
| Date |
2015-05-22T14:50:51Z
2015-05-22T14:50:51Z 2005 |
|
| Type |
Article
|
|
| Format |
С. 104-109
|
|
| Identifier |
Румбешта В. О. Методика аналізу якості приладів на етапах вихідного контролю та випробувань / Румбешта В. О., Андрусенко О. О. // Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування : збірник наукових праць. – 2005. – Вип. 30. – С. 104–109. – Бібліогр.: 7 назв.
http://ela.kpi.ua/handle/123456789/11637 |
|
| Source |
Вісник НТУУ «КПІ». Приладобудування: збірник наукових праць
|
|
| Language |
uk
|
|