Частотные и температурные зависимости диэлектрических потерь в полупроводниках на СВЧ
DSpace at NTB NTUU KPI
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Частотные и температурные зависимости диэлектрических потерь в полупроводниках на СВЧ
Частотні та температурні залежності діелектричних втрат у напівпровідниках на НВЧ Frequency and temperature dependences of the dielectric loss in semiconductors at UHF |
|
| Creator |
Диденко, Юрий Викторович
Діденко, Юрій Вікторович Didenko, Y. |
|
| Subject |
полупроводниковые материалы
тангенс угла потерь диэлектрическая проницаемость частотная зависимость потерь проводимость квазидебаевский механизм напівпровідникові матеріали тангенс кута втрат діелектрична проникність частотна залежність втрат провідність квазідебаєвський механізм semiconductor materials the loss tangent the dielectric permittivity the frequency dependence of losses the conductivity the quasi-Debye mechanism 621.372.41 |
|
| Publisher |
Київ
НТУУ «КПІ» |
|
| Date |
2016-09-13T13:50:54Z
2016-09-13T13:50:54Z 2015 |
|
| Type |
Article
|
|
| Format |
С. 9-11
|
|
| Identifier |
Диденко Ю. В. Частотные и температурные зависимости диэлектрических потерь в полупроводниках на СВЧ / Ю. В. Диденко // Електроніка та зв'язок : науково-технічний журнал. – 2015. – Т. 20, № 3(86). – С. 9–11. – Бібліогр.: 3 назви.
http://ela.kpi.ua/handle/123456789/17553 |
|
| Source |
Електроніка та зв'язок : науково-технічний журнал
|
|
| Language |
ru
|
|