Вимірювання НВЧ параметрів діелектричних матеріалів методом тонкого діелектричного резонатора
DSpace at NTB NTUU KPI
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Вимірювання НВЧ параметрів діелектричних матеріалів методом тонкого діелектричного резонатора
Measurement of the microwave parameters of the dielectric materials by the method of thin dielectric resonator Измерение СВЧ параметров диэлектрических материалов методом тонкого диэлектрического резонатора |
|
| Creator |
Молчанов, Віталій Іванович
Пашков, Валерій Маркович Татарчук, Дмитро Дмитрович Франчук, Антон Сергійович Molchanov, V. І. Pashkov, V. M. Tatarchuk, D. D. Franchuk, A. S. Молчанов, В. И. Пашков, В. М. Татарчук, Д. Д. Франчук, А. С. |
|
| Subject |
діелектрична проникність
тангенс кута діелектричних втрат тонкий діелектричний резонатор НВЧ параметри чутливість методу semiconductor materials the loss tangent the dielectric permittivity the frequency dependence of losses the conductivity the quasi-Debye mechanism диэлектрическая проницаемость тангенс угла диэлектрических потерь диэлектрический резонатор СВЧ параметры чувствительность метода 621.372.41 |
|
| Publisher |
Київ
НТУУ «КПІ» |
|
| Date |
2016-08-31T12:52:30Z
2016-08-31T12:52:30Z 2015 |
|
| Type |
Article
|
|
| Format |
C. 23-26
|
|
| Identifier |
Вимірювання НВЧ параметрів діелектричних матеріалів методом тонкого діелектричного резонатора / В. І. Молчанов, В. М. Пашков, Д. Д. Татарчук, А. С. Франчук // Електроніка та зв'язок : науково-технічний журнал. – 2015. – Т. 20, № 1(84). – С. 23–26. – Бібліогр.: 7 назв.
http://ela.kpi.ua/handle/123456789/17458 |
|
| Source |
Електроніка та зв'язок : науково-технічний журнал
|
|
| Language |
uk
|
|