Спосіб визначення RMS опромінення зображення протяжного джерела методом мікрофотометрії
DSpace at NTB NTUU KPI
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Спосіб визначення RMS опромінення зображення протяжного джерела методом мікрофотометрії
Method of Determination of RMS Exposure of Extended Source Image by Microphotometry Способ определения RMS облучения изображения протяженного источника методом микрофотометрии |
|
| Creator |
Чиж, Ігор Генріхович
Голембовський, Олександр Олексійович Chyzh, Igor G. Holembovsky, Oleksandr O. Чиж, Игорь Генрихович Голембовский, Александр Алексеевич |
|
| Subject |
RMS зображення протяжного джерела
RMS абераційної плями мікрофотометрія зображення джерела світла RMS image extended source RMS operating spots microphotometry image light source RMS изображения протяженного источника RMS аберрационного пятна микрофотометрия изображения источника света 535(075) |
|
| Publisher |
Київ
НТУУ "КПІ" |
|
| Date |
2016-11-23T16:33:48Z
2016-11-23T16:33:48Z 2016 |
|
| Type |
Article
|
|
| Format |
С. 124-130
|
|
| Identifier |
Чиж І. Г. Спосіб визначення RMS опромінення зображення протяжного джерела методом мікрофотометрії / І. Г. Чиж, О. О. Голембовський// Наукові вісті НТУУ «КПІ» : науково-технічний журнал. – 2016. – № 1(105). – С. 124–130. – Бібліогр.: 7 назв.
http://ela.kpi.ua/handle/123456789/18161 10.20535/1810-0546.2016.1.58874 |
|
| Source |
Наукові вісті НТУУ «КПІ»: науково-технічний журнал
|
|
| Language |
uk
|
|