Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки
DSpace at NTB NTUU KPI
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки
|
|
| Creator |
Олійник, Остап Олегович
|
|
| Subject |
підвищення чутливості
величина двопроменезаломлення вимірювання фази модуляційна поляриметрія фотопружний мікроскоп сенсор переміщення sensitivity increase the value of the birefringence the phase measurement modulation polarimetry photoelastic microscope displacement sensor повышение чувствительности величина двулучепреломления измерения фазы модуляционная поляриметрия фотоупругий микроскоп сенсор перемещения 621.382.049.774:681.723.2]:535.568](043.3) |
|
| Publisher |
Київ
|
|
| Contributor |
Циганок, Борис Архипович
|
|
| Date |
2017-06-14T08:52:29Z
2017-06-14T08:52:29Z 2017 |
|
| Type |
Thesis Doctoral
|
|
| Format |
165 с.
|
|
| Identifier |
Олійник, О. О. Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки : дис. … канд. техн. наук : 05.27.01 – твердотільна електроніка / Олійник Остап Олегович. – Київ, 2017. – 165 с.
http://ela.kpi.ua/handle/123456789/19684 |
|
| Language |
uk
|
|