Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки
DSpace at NTB NTUU KPI
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки
|
|
| Creator |
Олійник, Остап Олегович
|
|
| Subject |
підвищення чутливості
величина двопроменезаломлення вимірювання фази модуляційна поляриметрія фотопружний мікроскоп сенсор переміщення sensitivity increase the value of the birefringence the phase measurement modulation polarimetry photoelastic microscope displacement sensor повышение чувствительности величина двулучепреломления измерения фазы модуляционная поляриметрия фотоупругий микроскоп сенсор перемещения 621.382.049.774:681.723.2]:535.568](043.3) |
|
| Publisher |
Київ
КПІ ім. Ігоря Сікорського |
|
| Date |
2017-06-14T08:54:22Z
2017-06-14T08:54:22Z 2017 |
|
| Type |
Thesis
|
|
| Format |
22 с.
|
|
| Identifier |
Олійник, О. О. Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки : автореф. дис. … канд. техн. наук : 05.27.01 – твердотільна електроніка / Олійник Остап Олегович. – Київ, 2017. – 22 с.
http://ela.kpi.ua/handle/123456789/19685 |
|
| Language |
uk
|
|