Назва
|
Автор
- » Научно-технические условия обеспечения сертификационных испытаний в области нанотехнологий
- » Моделирование рабочего пространства и сенсорных систем робота
Бронников, Артем Игоревич
2012-12-21
Переглянути запис |
Переглянути оригінал
- » Модель відмовостійкої маршрутизації з реалізацією різних схем резервування ресурсів...
Лемешко, О. В.; Арус, К.
2014-10-01
Переглянути запис |
Переглянути оригінал
- » Многозондовое подключающее устройство для контроля BGA-компонентов
Невлюдов, И. Ш.; Палагин, В. А.; Тымчук, И. Т.; Разумов-Фризюк, Е. А.; Жарикова, И. В.
2024-11-29
Переглянути запис |
Переглянути оригінал
- » Особенности построения нейросетевых моделей технологических процессов
Бессонов, А. А.; Руденко, О. Г.; Руденко, C. О.
2024-11-29
Переглянути запис |
Переглянути оригінал
- » Сравнительный анализ основных параметров кремниевых монокристалических и пленочных...
Слипченко, Н. И.; Письменецкий, В. А.; Фролов, А. В.; Герасименко, Н. В.
2024-11-29
Переглянути запис |
Переглянути оригінал
- » Неразрушающий контроль магнитодиэлектрических и ферритовых образцов с металлической...
Мизерник, В. Н.; Одаренко, Е. Н.; Шматько, А. А.
2024-11-29
Переглянути запис |
Переглянути оригінал
- » К вопросу применения современных нанотехнологий при создании источников...
Воробьев, Г. С.; Чурюмов, Г. И.; Рыбалко, А. А.; Шульга, Ю. В.
2024-11-29
Переглянути запис |
Переглянути оригінал
- » Особливості впливу ізовалентних домішок на структурні спотворення кристалів телуріду...
- » Система проектирования QUARTUS II
Бояренко, В. Ю.; Чан, Л.; Панченко, А. Ю.; Чернышов, Н. Н.
2024-11-29
Переглянути запис |
Переглянути оригінал
- » Повышение точности процесса автоматизации контроля параметров электронных компонент
Слипченко, Н. И.; Федотов, П. Д.; Федотов, Д. А.
2024-11-29
Переглянути запис |
Переглянути оригінал
- » Структурное описание объекта моделирования базовых конструкций моделей на языке VHDL
Астахова, Е. С.; Чан, Л.; Панченко, А. Ю.; Чернышов, Н. Н.
2024-11-29
Переглянути запис |
Переглянути оригінал
- » Внутризонное поглощение в одномерных наноструктурах
Пащенко, А. Г.; Ванцан, В. М.
2024-11-29
Переглянути запис |
Переглянути оригінал
- » Електрохемілюмінесцентний принцип сенсорики ендотоксинів
Музика, К. М.; Білаш, О. М.; Рожицький, М. М.
2024-11-29
Переглянути запис |
Переглянути оригінал
- » Возможности проведения микроволновой сканирующей дефектометрии полупроводниковых...
Мельник, С. И.; Гордиенко, Ю. Е.; Слипченко, Н. И.
2024-11-29
Переглянути запис |
Переглянути оригінал
- » Высокочувствительный магнитный сквид-микроскоп на основе эффекта стохастического резонанса
Турутанов, О. Г.; Гордиенко, Ю. Е.; Шнырков, В. И.
2024-11-29
Переглянути запис |
Переглянути оригінал
- » Информационный метод моделирования непрерывных нечетких измерений квантового...
Мельник, С. И.; Слипченко, Н. И.; Мельник, С. С.
2024-11-29
Переглянути запис |
Переглянути оригінал
- » Проективная геометрия
- » Дифференциальное исчисление
- » Начертательная геометрия
- » Методы решения задач прямолинейной тригонометрии
- » Особенности применения фотодетекторов в сцинтилляционных датчиках
Мачехин, Ю. П.; Татьянко, Д. Н.; Любинский, В. Р.
2024-11-29
Переглянути запис |
Переглянути оригінал
- » Твердотельный чип-лазер с полупроводниковой накачкой для оптических стандартов частоты
Мачехин, Ю. П.; Медведенко, О.
2024-11-29
Переглянути запис |
Переглянути оригінал
- » Частотно-временные измерения в нанометрии
- » Эффект когерентного пленения населенностей как основа модуляции многочастотного...
Мачехин, Ю. П.; Вознюк, Е. В.
2024-11-29
Переглянути запис |
Переглянути оригінал
1976 - 2000 з 630510 результатів
<< < 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 > >>