• » Estimation on frequency characteristics of a photodiode determined by the motion of...
  
  Danilyuk, A.I.; Dobrovolskiy, Yu.G.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Calculation of Fermi level location and point defect ensemble in CdTe single crystal...
  
  Kosyak, V.V.; Opanasyuk, A.S.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » On a correlation between EPR data for SASeD doped with Cr³⁺ and soft modes
  
  Lipinski, I.E.; Kuriata, J.; Korynevskii, N.A.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Effect of microwave electromagnetic radiation on the structure, photoluminescence and...
  
  Kaganovich, E.B.; Kizyak, I.M.; Kirillova, S.I.; Konakova, R.V.; Lytvyn, O.S.; Lytvyn, P.M.; Manoilov, E.G.; Primachenko, V.E.; Prokopenko, I.V.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Structural changes in multilayer systems containing InxGa₁₋xAs₁₋yNy quantum wells
  
  Fodchuk, I.M.; Gevyk, V.B.; Gimchinsky, O.G.; Kislovskii, E.N.; Kroytor, O.P.; Molodkin, V.B.; Olihovskii, S.I.; Pavelescu, E.M.; Pessa, M.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Pyroelectric response of inhomogeneous ferroelectric-semiconductor films
  
  Morozovska, A.N.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » A fresh approach to interpretation of visible photoluminescence spectra in silicon...
  
  Sachenko, A.V.; Kryuchenko, Yu.V.; Manoilov, E.G.; Kaganovich, E.B.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Dielectric properties of CuInP₂S₆ crystals under high pressure
  
  Shusta, V.S.; Prits, I.P.; Guranich, P.P.; Gerzanich, E.I.; Slivka, A.G.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Structure and luminescence study of nanoporous silicon layers with high internal surface
  
  Makara, V.A.; Melnichenko, M.M.; Svezhentsova, K.V.; Khomenkova, L.Yu.; Shmyryeva, O.M.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Optical properties of ZnO aggregates in KBr matrix
  
  Samah, M.; Bouguerra, M.; Khelfane, H.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Study of gamma field induced degradation of green GaP light diode electroluminescence...
  
  Kanevsky, S.O.; Litovchenko, P.G.; Opilat, V.Ja.; Tartachnyk, V.P.; Pinkovs'ka, M.B.; Shakhov, O.P.; Shapar, V.M.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Dynamics of the domain structure in non-uniform ferroelectric crystals
  
  Matyjasek, K.; Rogowski, R.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Polymer films as sensitive coatings for quartz crystal microbalance sensors array
  
  Koshets, I.A.; Kazantseva, Z.I.; Shirshov, Yu.M.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » X-ray photoelectron spectra and electronic structure of quasi-one-dimensional SbSeI...
  
  Grigas, J.; Talik, E.; Adamiec, M.; Lazauskas, V.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Phase transitions in KDP crystals with the complex organic and inorganic impurities
  
  Strukov, B.; Shnaidshtein, I.; Grabovsky, S
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Вступление
  
  Окулов, В.И.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Отсутствие перехода Андерсона в высокорезистивных сплавах с большой электронной плотностью
  
  Гантмахер, В.Ф.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Электронные интерферометры в режиме квантового эффекта Холла
  
  Девятов, Э.В.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Мезоскопические состояния в графене, находящемся в магнитном поле: коллапс и...
  
  Демиховский, В.Я.; Тележников, А.В.; Фролова, Е.В.; Кравец, Н.А.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Modeling high performance multilayer antireflection coatings for visible and infrared...
  
  Asghar, M.H.; Khan, M.B.; Naseem, S.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Influence of elastic deformation on the residual ellipticity of polished optical materials
  
  Maslov, V.P.; Sarsembaeva, A.Z.; Sizov, F.F.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Distortion compensation technique for high resolution microscopy
  
  Borovytsky, V.N.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » The study of the lifetime of ZnS-based luminescent films by using the devices of LMS...
  
  Popovych, K.; Nakonechny, Yu.; Rubish, I.; Gerasimov, V.; Leising, G.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Levitation of delocalized states at weak magnetic field: critical exponents and phase...
  
  Kagalovsky, V.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Dual model describing effects of evaporated metal gate on low-k dielectric...
  
  Aw, K.C.; Ibrahim, K.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал

101451 - 101475 з 137976 результатів    << < 4054 4055 4056 4057 4058 4059 4060 4061 4062 4063 > >>