• » Effect of microwave treatment on current flow mechanism in ohmic contacts to GaN
  
  Sheremet, V.N.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Silicon carbide defects and luminescence centers in current heated 6H-SiC
  
  Lee, S.W.; Vlaskina, S.I.; Vlaskin, V.I.; Zaharchenko, I.V.; Gubanov, V.A.; Mishinova, G.N.; Svechnikov, G.S.; Rodionov, V.E.; Podlasov, S.A.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Radiation-resistant ultraviolet curable polyurethane films with CdSe-ZnS сore-shell...
  
  Kulish, N.R.; Kunets, V.P.; Narsingi, K.Y.; Manasreh, M.O.; Kunets, Vas. P.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Anti-reflection coatings based on SnO₂, SiO₂, Si₃N₄ films for photodiodes operating in...
  
  Dobrovolskiy, Yu.G.; Perevertailo, V.L.; Shabashkevich, B.G.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Effect of microwave radiation on I-V curves and contact resistivity of ohmic contacts...
  
  Belyaev, A.E.; Boltovets, N.S.; Zhilyaev, Yu.V.; Zhigunov, V.S.; Konakova, R.V.; Panteleev, V.N.; Sachenko, A.V.; Sheremet, V.N.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films
  
  Amer, H.H.; Elkordy, M.; Zien, M.; Dahshan, A.; Elshamy, R.A.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » On features of crystal structure of semiconductor-ferroelectric Ag₃AsS₃
  
  Borovoy, N.; Gololobov, Yu.; Isaienko, G.; Salnik, A.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Use of radiation from PC screen for non-destructive controlling the internal strains in...
  
  Maslov, V.P.; Kachur, N.V.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Revision of interface coupling in ultra-thin body silicon-on-insulator MOSFETs
  
  Rudenko, T.; Nazarov, A.; Kilchytska, V.; Flandre, D.; Popov, V.; Ilnitsky, M.; Lysenko, V.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » The role of copper in bifacial CdTe based solar cells
  
  Khrypunov, G.; Meriuts, A.; Shelest, T.; Deineko, N.; Klyui, N.; Avksentyeva, L.; Gorbulik, V.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Multi-element gas sensor based on surface plasmon resonance: recognition of alcohols by...
  
  Kostyukevych, K.V.; Khristosenko, R.V.; Shirshov, Yu.M.; Kostyukevych, S.A.; Samoylov, A.V.; Kalchenko, V.I.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Method and estimation of parameters of dense part of double electrical layer at the...
  
  Kovalchuk, O.V.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Optical properties of the Ti surface structured by femtosecond laser beam
  
  Dolgov, L.; Kravchuk, R.; Rybak, A.; Kiisk, V.; Sildos, I.; Blonskyi, I.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Sensors for fire gas detectors
  
  Kozubovsky, V.R.; Kormosh, V.V.; Alyakshev, I.P.; Lishchenko, N.H.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Effect of magnetic field on the reconstruction of the defect-impurity state and...
  
  Steblenko, L.P.; Koplak, O.V.; Syvorotka, I.I.; Kravchenko, V.S.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Laser oscillation in Cr²⁺:ZnS waveguide thin-film structures under electrical pumping...
  
  Vlasenko, N.A.; Oleksenko, P.F.; Mukhlyo, M.O.; Lytvyn, P.M.; Veligura, L.I.; Denisova, Z.L.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Size effects in p-PbTe nanostructures on polyamide
  
  Freik, D.M.; Yurchyshyn, I.K.; Potyak, V.Yu.; Lysiuk, Yu.V.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » The new approach to identification of film reflecting holographic marks
  
  Kostyukevych, S.O.; Muravsky, L.I.; Fitio, V.M.; Voronyak, T.I.; Shepeliavyi, P.E.; Kostyukevych, K.V.; Moskalenko, N.L.; Pogoda, V.I.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Influence of mutual drag of light and heavy holes on conductivity of p-silicon and...
  
  Boiko, I.I.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Photoconductivity and photoluminescence features of γ-irradiated GaS₀.₇₅Se₀.₂₅‹Er›...
  
  Taghiyev, T.B.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Mechanism of current flow and temperature dependence of contact resistivity in...
  
  Sachenko, A.V.; Belyaev, A.E.; Boltovets, N.S.; Kapitanchuk, L.M.; Klad’ko, V.P.; Konakova, R.V.; Kuchuk, A.V.; Korostinskay, T.V.; Pilipchuk, A.S.; Sheremet, V.N.; Mazur, Yu.I.; Ware, M.E.; Salamo, G.J.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Jones-matrix images corresponding to networks of biological crystals for diagnostics...
  
  Ushenko, Yu. O.; Balanetsk, V. O.; Angelsky, O. P.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Lateral drift of photo-generated charge carriers in the p-SiGe/Si heterostructures with...
  
  Gudenko1, Yu.M.; Vainberg, V.V.; Poroshin, V.M.; Tulupenko, V.M.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Graphene layers fabricated from the Ni/a-SiC bilayer precursor
  
  Nazarov, A.N.; Vasin, A.V.; Gordienko, S.O.; Lytvyn, P.M.; Strelchuk, V.V.; Nikolenko, A.S.; Stubrov, Yu.Yu.; Hirov, A.S.; Rusavsky, A.V.; Popov, V.P.; Lysenko, V.S.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал
• » Influence of small miscuts on self-ordered growth of Ge nanoislands
  
  Gudymenko, O.Yo.; Kladko, V.P.; Yefanov, O.M.; Slobodian, M.V.; Polischuk, Yu.S.; Krasilnik, Z.F.; Lobanov, D.V.; Novikov, А.А.
  2024-11-05
  Переглянути запис | Переглянути оригінал

101126 - 101150 з 137976 результатів    << < 4041 4042 4043 4044 4045 4046 4047 4048 4049 4050 > >>